姓名张阳*职称副教授所属系测控技术及仪器邮箱yzhang0615@vip.163.com电话2147483647个人简历张阳,男,1979年6月出生,安徽省蚌埠市人。1997年9月-2001年6月,就读于合肥工业大学仪器仪表学院测控技术与仪器系,获工学学士;2001年9月-2004年4月,就读于合肥工业大学仪器仪表学院精密仪器与机械专业,获得工学硕士学位。2004年4月至今,于英国威廉希尔公司测控技术与仪器系任教。研究领域嵌入式系统、工业检测及控制系统、智能测试仪表等开设课程1.单片机原理及应用2.单片机接口技术3.嵌入式系统及应用科研项目1.2.发表论文1.2.专著教材1.《基于HCS12的嵌入式系统设计》,电子工业出版社,2010年1月,第二作者2.《MC9S12XS单片机原理及嵌入式系统开发》,电子工业出版社,2011年9月,第一作者申请专利1.2.获奖成果1.2." /> 英国威廉希尔公司_WilliamHill官网-中文网站

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副教授及讲师

闫佩正

2017-05-04

姓    名闫佩正
职    称副教授                                
所属系光电信息科学与工程系
邮    箱pzyan@hfut.edu.cn
电    话
  • 个人简历


    1. 2015/6-至今,合肥工业大学,英国威廉希尔公司,讲师

    2. 2010/92015/6,中国科学技术大学,仪器科学与技术,博士,导师:王克逸

    3. 2006/92010/7,中国科学技术大学,机械设计制造及其自动化,学士,导师:王克逸

  • 研究领域

    激光散斑干涉、数字散斑相关 

  • 开设课程

    应用光学设计、光学机械设计、光学机械课程设计

  • 科研项目

    重大科学仪器设备开发项目:剪切散斑无损测量 

  • 发表论文

    (1) Peizheng Yan, Keyi Wang, Pengcheng Cui, Jiangang Gao, Jiajun Ma, Qijin Zhang, Single-exposure polarization phase-shifting interferometer using an azo-polymer orientation array, Optics and Lasers in Engineering, 2015, 73: 75~79

    (2) Peizheng Yan, Keyi Wang, Jiangang Gao, Polarization phase-shifting interferometer by rotating azo-polymer film with photo-induced optical anisotropy, Optics and Lasers in Engineering, 2015, 64: 12~16

    (3) Peizheng Yan, Keyi Wang, Xinyu Zhang, Pengcheng Cui, Jiangang Gao, Simultaneous Imaging Polarimeter Using an Azo-polymer Orientation Array, 2014 International Conference on Materials Science and Energy Engineering (CMSEE 2014) , Sanya, China, 2014.12.12-2014.12.14

    (4) Xinyu Zhang, Keyi Wang, Jiajun Ma, Qijin Zhang, Peizheng Yan, Xiujie Tian, Ultraviolet Imaging Based on Surface Plasmon Resonance With Azo-Polymer Sensing Layer, Ieee Photonics Technology Letters, 2015, 27(12): 1297~1300

    (5) 崔鹏程,王克逸,闫佩正,李飞,章海军,针尖书写式铌酸锂微畴结构制备及检测,机械与电子,2016.6.24,(06):36~40

    (6) 王永红,柏天舒,但西佐,闫佩正,杨永跃,TFT-LCD面板光学检测自动聚焦算法研究与比较,液晶与显示,2016.4.15,(04):339~346

     

  • 专著教材

  • 申请专利

    1. 王永红,柏天舒,但西佐,闫佩正,涂思琪,卢荣胜,基于多点离焦探测的平板倾斜测量装置,专利号:CN201510557426.1

    2. 王克逸,王玉伟,闫佩正,卢钰,基于大景深条带图像投影的弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法,专利号:CN201410773348.4

    3. 王克逸,闫佩正,吴朔,郝鹏,曹兆楼,基于望远系统的激光多自由度精密测量系统,专利号:ZL201110161338.1

    4. 王克逸,闫佩正,吴朔,郝鹏,曹兆楼,激光多自由度同时测量装置,专利号:ZL201120202279.3

  • 获奖成果

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